GB 6757-1986 输送带贮存和搬运通则
作者:标准资料网 时间:2024-05-28 20:40:39 浏览:9599
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 输送带贮存和搬运通则 |
| 中标分类： |
化工 >>
橡胶制品及其辅助材料 >>
橡胶制品综合 |
| 替代情况： | 调整为HG/T 3056-1986(1997) |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1987-08-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 化工 橡胶制品及其辅助材料 橡胶制品综合
【英文标准名称】:Camelbacksforretreatingoftyres;RT-seriescamelbacksforretreatingautomotivetyresinradialconstructionwithcoarseandhighstuddedtreads
【原文标准名称】:轮胎再处理用补胎料.在有粗的和高防滑钉胎面的径向结构中汽车轮胎再处理用RT系列补胎料
【标准号】:DIN7751-6-1981
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1981-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:翻新(轮胎);运载工具;半成品;道路车辆;摩托车;硫化橡胶;外形;轮胎;尺寸;翻新
【英文主题词】:vehicles;roadvehicles;profile;vulcanizedrubber;retreadings;motorvehicles;tyres;retreading;dimensions;semi-finishedproducts
【摘要】:Camelbacksforretreatingoftyres;RT-seriescamelbacksforretreatingautomotivetyresinradialconstructionwithcoarseandhighstuddedtreads
【中国标准分类号】:G35
【国际标准分类号】:83_160_10
【页数】:1P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:StandardTestMethodforTraceMetallicImpuritiesinElectronicGradeAluminum-Copper,Aluminum-Silicon,andAluminum-Copper-SiliconAlloysbyHigh-Mass-ResolutionGlowDischargeMassSpectrometer
【原文标准名称】:用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1845-2008
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2008
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.17
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:aluminum;aluminum-copperalloys;aluminum-copper-siliconalloys;aluminum-siliconalloys;electronics;glowdischargemassspectrometer(GDMS);purityanalysis;sputteringtarget;tracemetallicimpurities;Impurities--electronicmaterials/applications;
【摘要】:Thistestmethodisintendedforapplicationinthesemiconductorindustryforevaluatingthepurityofmaterials(forexample,sputteringtargets,evaporationsources)usedinthinfilmmetallizationprocesses.Thistestmethodmaybeusefulinadditionalapplications,notenvisionedbytheresponsibletechnicalcommittee,asagreeduponbetweenthepartiesconcerned.ThistestmethodisintendedforusebyGDMSanalystsinvariouslaboratoriesforunifyingtheprotocolandparametersfordeterminingtraceimpuritiesinaluminum-copper,aluminum-silicon,andaluminum-copper-siliconalloys.Theobjectiveistoimprovelaboratory-to-laboratoryagreementofanalysisdata.ThistestmethodisalsodirectedtotheusersofGDMSanalysesasanaidtounderstandingthedeterminationmethod,andthesignificanceandreliabilityofreportedGDMSdata.Formostmetallicspeciesthedetectionlimitforroutineanalysisisontheorderof0.01wt.ppm.Withspecialprecautions,detectionlimitstosub-ppblevelsarepossible.Thistestmethodmaybeusedasarefereemethodforproducersandusersofelectronic-gradealuminum-copper,aluminum-siliconandaluminum-copper-siliconmaterials.1.1Thistestmethoddeterminestheconcentrationsoftracemetallicimpuritiesinhighpurity(99.99wt.%pure,orpurer,withrespecttometallictraceimpurities)aluminum-copper,aluminum-siliconandaluminum-copper-siliconalloyswithmajoralloyconstituentsasfollows:
aluminum
Greaterthan95.0%
copper
Lessorequalthan5.0%
silicon
Lessorequalthan5.0%
