ASTM F1996-2006 薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-15 20:19:53 浏览:9579 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodforSilverMigrationforMembraneSwitchCircuitry
【原文标准名称】:薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1996-2006
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.18
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:薄膜开关;渗移;银;试验方法
【英文主题词】:membraneswitch;silverdendrite;silvermigration
【摘要】:Theeffectsofsilvermigrationareshortcircuitingorreductionininsulationresistance.Itisevidencedbystainingordicolorationbetweenthecathodeandanodeconductivetraces.Acceleratedtestingmaybeaccomplishedbyincreasingthevoltageoverthespecifiedvoltages.(Atypicalstartingpointwouldbe5Vdc50mA).1.1Thistestmethodisusedtodeterminethesusceptibilityofamembraneswitchtothemigrationofthesilverbetweencircuittracesunderdcvoltagepotential.1.2Silvermigrationwilloccurwhenspecialconditionsofmoistureandelectricalenergyarepresent.
【中国标准分类号】:L57
【国际标准分类号】:77_120_99
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:

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